Nutzerordnung

für durch das RCCM bereitgestellte Großgeräte

-­ Joint Analytical Laboratory -

Allgemeines

Das RCCM (http://www.roentgen‐zentrum.uni‐wuerzburg.de/), vertreten durch seinen Sprecher, stellt im Rahmen seines „Joint Analytical Laboratory“ (JAL) eine Reihe wissenschaftlicher Großgeräte vorrangig zur Benutzung durch die Mitglieder des RCCM zur Verfügung. Benutzern von außerhalb des RCCM kann nachrangig Zugang gewährt werden. Die vorliegende Benutzerordnung legt allgemeine Regeln für den Zugang, die Nutzung, sowie die Abrechnung entstehender Kosten fest und gilt für alle Nutzer verbindlich.

Folgende Geräte stehen dem JAL derzeit zur Verfügung:

1. High-resolution X-Ray Diffractometer (Bruker)
   Standort: RCCM Gebäude - NBAA/ZINT (P5)
   Verantwortlich: Lehrstuhl für Experimentelle Physik 4 (Prof. Dr. R. Claessen) und Lehrstuhl für Experimentelle Physik 3 (Prof. Dr. L. Mohlenkamp)
   Ansprechpartner: Florian Pfaff ; Franz Schwabenländer ; Claus Schumacher ; Maximilian Kessel
2. X-Ray Powder Diffractometer (Bruker)
   Standort:
   Verantwortlich: Lehrstuhl Dipl. Chem. Larissa Meyer; M. Sc. Tobias Wehner; Dr. Jens-Christoph Rybak (wissenschaftlich und technisch)
3. Dual‐Beam System (FEI Helios Nanolab)
   Standort: RCCM Gebäude - NBAA/ZINT (P5)
   Verantwortlich: RCCM, Martin Kamp
4. Transmission Electron Microscope (FEI Titan 80-300)
   Standort: Gottfried-Landwehr-Labor für Nanotechnologie (P2) 
   Verantwortlich: RCCM, Martin Kamp
5. Scanning Electron Microscope (Zeiss Ultra+)
   Standort: Lehrstuhl für Organische Chemie II,
   Verantwortlich: Dr. V. Stepanenko (technisch), Prof. Dr. F. Würthner (wissenschaftlich)
6. Scanning Electron Microscope (JEOL JSM-7100F)/ X-ray microscope (XRM II)
   Standort: Lehrstuhl für Röntgenmikroskopie,
   Verantwortlich: Fabian Lutter (technisch), Prof. Dr. R. Hanke  (wissenschaftlich)
7. Small and Wide Angle X-ray Scattering-System
   Standort: Lehrstuhl für Röntgenmikroskopie,
   Verantwortlich: Benedikt Sochor (technisch), Prof. Dr. R. Hanke (wissenschaftlich)
8. Ultraschnelle Laserspektroskopie (ca. 10‐20% RCCM Anteil)
   Standort: Organische Chemie, LS Lambert
   Verantwortlich: n.n (technisch), Prof. Dr. C. Lambert (wissenschaftlich)
9. He/He/Ga-Scanning Ionen Mikroskop (Zeiss Orion NanoFab)
   Standort: P5/NBAA Reinraum
   Verantwortlich : Jessica Meier (technisch),  Prof.Dr. Bert Hecht (wissenschaftlich)
10. FE-SEM (ZEISS GeminiSEM 450)
    Standort: P5/NBAA Reinraum
    Verantwortlich : Jessica Meier (technisch), Prof.Dr. Bert Hecht (wissenschaftlich)

 

Organisationskonzept

Die Betreuung von Geräten des JAL wird durch das RCCM jeweils an geeignete Lehrstühle bzw. Arbeitsgruppen aus dem Kreise der Mitglieder des RCCM delegiert. Diese Arbeitsgruppen (Betreiber) stellen aus ihnen zur Verfügung stehenden Ressourcen geeignete Räumlichkeiten sowie ausreichend Personal mit entsprechender Expertise zur Sicherstellung des Betriebs des jeweiligen Gerätes zur Verfügung. Für anfallende Nutzerbeiträge wird für jedes Gerät eine eigene Kostenstelle angelegt. Die zuständige Arbeitsgruppe bietet weiterhin Schulungen und technische Unterstützung für interessierte Nutzer an, um eine effiziente, sinnvolle und störungsfreie Nutzung der Geräte durch alle Mitglieder zu gewährleisten. Eine direkte „hands­‐on“‐Benutzung der Geräte wird als typischer Anwendungsmodus angestrebt. Dies ist jedoch nur bei ausreichendem Kenntnisstand des Anwenders möglich, welcher durch den Betreiber bestätigt wird.

 

Nutzer

Potentielle Nutzer der Einrichtungen des RCCM sind

1. seine Mitglieder sowie
2. externe (nationale und internationale) Kooperationspartner der Mitglieder aus Wissenschaft und Wirtschaft,
3. anderweitige Nutzer (z.B. Industrie).

 

Verrechnung von Verbrauchsmaterial und Unterhaltskosten und deren Verwendung

Nutzergruppe (i) und (ii):

Bei Nutzung durch Mitgliedern des RCCM und ihren Kooperationspartnern werden den RCCM‐Mitgliedern Kosten für Verbrauchsmaterial und wiederkehrende Unterhaltskosten (Verschleiß‐Material, Technikerkosten) nutzungsabhängig in Rechnung gestellt.
Bei Inanspruchnahme von Service‐Messungen wird ein erhöhter Tarif fällig.

Nutzergruppe (iii):

Anderweitige Nutzer der Geräte (Nichtmitglieder des RCCM, Wirtschaft) entrichten einen gesonderten, erhöhten, Tarif, der die anfallenden Nutzungskosten (Vollkosten) und den hohen Zeitaufwand bei der Betreuung berücksichtigt.

Die jeweiligen Kosten/h für jedes Gerät sind im Anhang separat aufgeführt und werden vom Betreiber festgelegt.

Rechenschaftsbericht:

Über die Verwendung der anfallenden Mittel soll in regelmäßigen Abständen gegenüber den Mitgliedern des RCCM Rechenschaft abgelegt werden. Technische Upgrades und Erweiterungen der Geräte sollen nicht aus RCCM‐Nutzerbeiträgen sondern anderweitig, z.B. aus Drittmitteln oder Beiträgen anderweitiger Benutzer, finanziert werden.

 

Zugang

Der Zugang zu den Geräten wird bei niedriger bis normaler Auslastung nach dem „first come‐first serve“-­Prinzip geregelt. Mitglieder des RCCM haben hier jedoch Vorrang. Eine Buchung der Geräte erfolgt über eine geeignete Internetplattform (typischerweise ein Google-­Kalender).

Falls die Nachfrage das Angebot übersteigt, gelten folgende Regelungen. (i) Arbeiten im Rahmen von Drittmittelprojekten von RCCM Mitgliedern, in denen Mittel für die Benutzung des Geräts beantragt und bewilligt wurden, haben Vorrang. Zur Vermeidung von Überbuchungen bedürfen die in Drittmittelprojekten beantragten Nutzungskontingente vor der Antragseinreichung der Zustimmung des jeweiligen wissenschaftlichen Verantwortlichen. (ii) Für die Durchführung sonstiger Projekte ist ein 1‐seitiger Antrag zu stellen, welcher vom zuständigen RCCM‐Geräteausschuss, welcher sich vorwiegend aus Vertretern des im Großgeräteanschaffungsverfahren beteiligten Wissenschaftlern zusammensetzt, begutachtet wird. Bei negativer Begutachtung ist die Ablehnung zu begründen. Bewilligte Anträge können unter Angabe von Gründen nach Ablauf eines Jahres verlängert werden. Es ist ein jährlicher Bericht vorzulegen welcher den Mitgliedern des RCCM zugänglich ist.

Würzburg, den 28.03.2012

Der Sprecher des RCCM (Prof. Dr. M. Bode)

 

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Anhang

Nutzungskosten

1. High-resolution X-Ray Diffractometer (Bruker)
   RCCM‐Nutzer     30€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     180€/h
    
2. X-Ray Powder Diffractometer (Bruker)
   RCCM‐Nutzer     30€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     180€/h
    
3. Dual‐Beam FIB System (FEI Helios Nanolab)
   RCCM‐Nutzer      30€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige      250€/h
   Bei ausschliesslicher Verwendung der Elektronenquelle:
   RCCM‐Nutzer      20€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige      150€/h
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Galliumquelle (~700h) und Einbau, Extraktor und Blenden im Ionenstrahl auswechseln bei jedem zweiten Wechsel der Galliumquelle, Elektronenquelle (~3000h) und Einbau, sonstige Wartung und Unterhalt, Verbrauchsmaterialien (Omniprobe-­Nadeln, Pt‐Prekursor, Cu‐Folie, Sonstiges)
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
4. Transmission Electron Microscope (FEI Titan 80‐300)
   RCCM‐Nutzer     40€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     150€/h
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Emitterwechsel und Justage (~alle 2 Jahre), sonstige Wartung und Unterhalt
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
5. Analytical Scanning Electron Microscope (Zeiss Ultra+)
   RCCM‐Nutzer     20€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     150€/h
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Emitterwechsel und Justage (~alle 2 Jahre), sonstige Wartung und Unterhalt, sowie Verbrauchsmaterial
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
6. Scanning Electron Microscope (JEOL JSM-7100F)/ X-ray microscope (XRM II)
   RCCM‐Nutzer     30€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     250€/h
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Etwa 10,- €/h Verschleiß Emitter (ca. 1400 h), Röntgentarget, Wartung etc. sowie 20,- €/h Geräteabschreibung und Betreuung bzw. Einweisung
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
7. Small and Wide Angle X-ray Scattering-System
   RCCM‐Nutzer     35€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige     300€/h
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Etwa 15,- €/h Verschleiß Target der Drehanode (1400 h), Filament (2500 h), Wartung etc. sowie 20,- €/h Geräteabschreibung und Betreuung bzw. Einweisung
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
8. Ultraschnelle Laserspektroskopie
   nach Absprache mit Herrn Prof. Lambert.
    
9. He/Ne/Ga Scanning Ionen Mikroskop (Zeiss Orion NanoFab)
   RCCM‐Nutzer      60€/h (Selbstkostenpreis)
   Anderweitige      500€/h
   
   
   Zusammensetzung der Kosten:
   Galliumquelle (~700h) und Einbau, Gas-Feldemissionsquelle und EInbau, Extraktor und Blenden im Ionenstrahl auswechseln bei jedem zweiten Wechsel der Galliumquelle, flüssiger Stickstoff, sonstige Wartung und Unterhalt, Verbrauchsmaterialien (Omniprobe-­Nadeln, Sonstiges, ...)
   Für Anderweitige:    Vollkosten
    
10. Scanning Electron Microscope (FE SEM Gemini 450)
    RCCM‐Nutzer     30€/h (Selbstkostenpreis)
    Anderweitige     250€/h
    
    Zusammensetzung der Kosten:
    Emitterwechsel und Justage (~alle 2 Jahre), sonstige Wartung und Unterhalt, sowie Verbrauchsmaterial
    Für Anderweitige:    Vollkosten

Für alle Geräte gilt

Zusätzlicher Kostenaufschlag für Service‐Messungen unter Inanspruchnahme von technischem oder wissenschaftlichem Personal:     40€/h

Die Nutzerordnung als pdf herunterladen

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